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NTTがDRAMセルの熱とエントロピーを電子単位で同時測定する手法を開発、超低消費電力メモリの実現に期待
2026/05/07 10:10
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1:
すらいむ ★
ID:aoIf8dTj
NTTがDRAMセルの熱とエントロピーを電子単位で同時測定する手法を開発、超低消費電力メモリの実現に期待
2:
名無しさん
ID:fDnaYh6j
なんか凄そう
3:
名無しさん
ID:BvNEIqRM
なんでNTTがそんな研究をしているんだ?
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